功能测试, 是测试芯片的参数、指针、功能, 用人话说就是看你十月怀胎生下来的宝贝是骡子是马拉出来遛遛. 性能测试, 由于芯片在生产制造过程中, 有无数可能的引入缺陷的步骤, 即使是同一批晶圆和封装成品, 芯片也各有好坏, 所以需要进行筛选, 本文主要介绍上海伯东inTEST ATS-545在芯片可靠性测试上的应用.
上海伯东 inTEST 高低温冲击测试机ATS-545在芯片可靠性测试上的应用的原因:
类似于鸡蛋里挑石头, 把“石头”芯片丢掉. 可靠性测试, 芯片通过了功能与性能测试, 得到了好的芯片, 但是芯片会不会被冬天里最讨厌的静电弄坏, 在雷雨天、三伏天、风雪天能否正常工作, 以及芯片能用一个月、一年还是十年等等, 这些都要通过可靠性测试进行评估. 因此需要在不同温度环境下对模拟芯片进行性能测试, 以确保能在综合复杂的环境中正常使用, 客户最终选择了ATS-545高低温冲击机进行测试.
芯片可靠性测试方法:
具体做法如下:
1.将芯片放置于已做好的工装中；
2.将sensor一端连接热流罩上对应接口, 一端与芯片表面接触；
3.将高低温冲击测试机ATS-545热流罩转到工装平台并下压固定；
4.启动高低温冲击测试机ATS-545高低温冲击机加热至需要测试的温度点；
5.启动芯片测试设备对芯片在-45度及84度下进行性能测试并记录数据；
高低温冲击测试机ATS-545高低温冲击机在芯片可靠性测试的客户案例:
成都某微电子, 通过伯东购买高低温冲击测试机ATS-545高低温冲击机
伯东高低温冲击测试机ATS-545产品优势:
1.温度范围 -75°C 至 +225°C
2.专利 ESD 防静电保护设计
3.不需要液态氮气 LN2 或液态二氧化碳 LCO2 冷却.
4.inTEST 超高速高低温测试机适用于电子元件, 集成电路 IC, PCB 电路板的高低温测试.
美国 inTEST Thermal Solutions 超过 50 年的热测系统研发专家, 热销产品 Temptronic ThermoStream 超高速高低温循环测试机, ThermoSpot 台式高低温测试机, Thermochuck 以及 Chillers 制冷机. inTEST 已收购 Thermonics 和 Temptronic.
inTEST 高低温测试机广泛应用于安捷伦 Agilent, 台积电 TSMC, IBM 等半导体, PCB 电路板, 光通讯和电子行业.
上海伯东是德国 Pfeiffer 真空设备, 美国 KRI 考夫曼离子源, 美国 inTEST 高低温冲击测试机, 美国 Ambrell 感应加热设备和日本NS 离子蚀刻机等进口知名品牌的指定代理商.
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